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上海某工業(yè)用戶 TLRB系列標(biāo)準(zhǔn)型基礎(chǔ)測(cè)試探針臺(tái)順利安裝交付
上海某工業(yè)用戶 TLRB系列標(biāo)準(zhǔn)型基礎(chǔ)測(cè)試探針臺(tái)順利安裝交付

上海某前沿科創(chuàng)企業(yè)TLRB系列標(biāo)準(zhǔn)型基礎(chǔ)測(cè)試探針臺(tái)交付驗(yàn)收核心指標(biāo):真空吸附卡盤:6英寸樣品臺(tái)位移精度:探針座位移精度:漏電流精度:兼容多種光學(xué)顯微鏡,可外引光路實(shí)現(xiàn)光電mapping測(cè)試是半導(dǎo)體材料或器件電學(xué)測(cè)試的理想選擇。TLRB系列探針臺(tái)簡(jiǎn)單介紹:.模塊化設(shè)計(jì),可以搭配不同...

2024-07-17
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  • 南京譜量光電亮相第二屆智能材料與光電子器件研討會(huì)(寧波)

    第二屆智能材料與光電子器件研討會(huì)(寧波)成功舉辦,譜量光電攜精密型基礎(chǔ)測(cè)試探針臺(tái),精密型光電流測(cè)試探針臺(tái),以及一些探針臺(tái)相關(guān)附件參展。兩臺(tái)設(shè)備共同亮相譜量光電此次展出了精密型基礎(chǔ)測(cè)試探針臺(tái)以及精密型光電流測(cè)試探針臺(tái),還有多種類型探針座,多種類型探針,電學(xué)測(cè)試夾具,電磁屏蔽箱等探針臺(tái)相關(guān)附件。如果你的實(shí)驗(yàn)室缺少整套的測(cè)試設(shè)備,您可以直接選擇我們的探針臺(tái),如果您之前已經(jīng)購買過探針臺(tái),不妨先從我們的探針臺(tái)附件產(chǎn)品試一試,相信我們品類眾多,精度覆蓋廣,工業(yè)設(shè)計(jì)優(yōu)雅,使用便利的探針臺(tái)附...

    20246-4
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  • 南京譜量光電即將參展第二屆智能材料與光電子器件研討會(huì)(寧波)

    南京譜量光電即將參展第二屆智能材料與光電子器件研討會(huì)(寧波)會(huì)議相關(guān)信息:會(huì)議主題:第二屆智能材料與光電子器件研討會(huì)會(huì)議時(shí)間:2024年5月17日—5月19日會(huì)議地點(diǎn):中國(guó)?寧波九龍湖開元度假村會(huì)議簡(jiǎn)單介紹:2024年05月17日-19日,智能材料與光電子器件研討會(huì)擬在浙江寧波舉行。本次大會(huì)專注“智能材料與光電子器件”的前沿領(lǐng)域,大會(huì)主題包括但不限于光電子集成與器件、半導(dǎo)體技術(shù)與器件、納米工藝與器件、智能傳感器件、神經(jīng)形態(tài)器件。同時(shí),本次大會(huì)得成功舉辦擬為學(xué)術(shù)界和產(chǎn)業(yè)界提供更...

    20245-13
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  • 譜量光電參展2024南京國(guó)際科教技術(shù)及裝備博覽會(huì)

    譜量光電(PLCTS)參展2024中國(guó)(南京)國(guó)際科教技術(shù)及裝備博覽會(huì)2024年3月21日至23日,譜量光電再次參展于南京國(guó)際展覽中心舉辦的中國(guó)(南京)國(guó)際教育裝備暨科教技術(shù)展覽會(huì)(EESE),展會(huì)持續(xù)三天,為眾多高校,科研機(jī)構(gòu),實(shí)力廠商提供了良好的溝通交流合作的平臺(tái)。作為南京本地企業(yè),對(duì)于這次2024中國(guó)(南京)國(guó)際科教技術(shù)及裝備博覽會(huì),譜量光電(PLCTS)非常重視,提前準(zhǔn)備了精密型組合式手動(dòng)探針臺(tái),二維材料轉(zhuǎn)移平臺(tái),三線擺高性能氣浮隔振光學(xué)平臺(tái)的單頁供獲取閱讀,并現(xiàn)場(chǎng)展...

    20243-29
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  • (2024南京科教展)譜量光電歡迎您蒞臨指導(dǎo)

    2024中國(guó)(南京)國(guó)際科教技術(shù)及裝備博覽會(huì)展會(huì)時(shí)間:3月21日-23日展會(huì)地點(diǎn):中國(guó)·南京國(guó)際展覽中心(南京市玄武區(qū)龍?bào)绰?8號(hào))譜量光電展位:B199展位譜量光電現(xiàn)場(chǎng)展品:精密型組合式手動(dòng)探針臺(tái)除了產(chǎn)品現(xiàn)場(chǎng)展出之外,譜量還制作了三線擺高性能氣浮隔振光學(xué)平臺(tái)產(chǎn)品單頁,二維材料轉(zhuǎn)移平臺(tái)單頁,精密型組合式手動(dòng)探針臺(tái)單頁,可現(xiàn)場(chǎng)聯(lián)系獲取高清電子版及紙質(zhì)版。活動(dòng)安排:現(xiàn)場(chǎng)可參觀我司主打產(chǎn)品精密型組合式手動(dòng)探針臺(tái),可與我司銷售經(jīng)理,技術(shù)工程師,售后工程師交流產(chǎn)品細(xì)節(jié),提出指導(dǎo)意見,有...

    20243-19
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  • 主動(dòng)調(diào)Q亞納秒重頻可調(diào)諧激光器新品發(fā)布

    532/1064nm雙波長(zhǎng)亞納秒重頻可調(diào)諧激光器近期,我公司推出一款雙波長(zhǎng)亞納秒重頻可調(diào)諧激光器產(chǎn)品,該產(chǎn)品已經(jīng)實(shí)現(xiàn)交付驗(yàn)證。核心指標(biāo)工作波長(zhǎng):532nm;脈沖寬度:?jiǎn)蚊}沖能量:1mJ;重復(fù)頻率:10Hz-10KHz連續(xù)可調(diào)(步距1Hz);能量穩(wěn)定性:光束質(zhì)量M(2):光束發(fā)散角:指向穩(wěn)定性:脈沖串鎖定功能(上位機(jī)控制);支持內(nèi)外觸發(fā),同步信號(hào)輸出(光同步&電同步);輸出方式:自由空間;冷卻方式:水冷;使用環(huán)境溫度:0~40℃;應(yīng)用方向生物超聲成像,微流控,激光雷達(dá),激光遙感...

    20243-13
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  • 芯片測(cè)試探針臺(tái):助力半導(dǎo)體行業(yè)的關(guān)鍵設(shè)備

    隨著科技的不斷進(jìn)步,半導(dǎo)體行業(yè)作為現(xiàn)代社會(huì)的核心產(chǎn)業(yè)之一,正日益發(fā)展壯大。在半導(dǎo)體制造過程中,芯片測(cè)試探針臺(tái)作為一種關(guān)鍵的測(cè)試設(shè)備,發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。本文將介紹該產(chǎn)品的用途、原理、使用方法以及市場(chǎng)前景等方面的內(nèi)容。一、用途:芯片測(cè)試探針臺(tái)主要用于對(duì)半導(dǎo)體芯片進(jìn)行功能和性能測(cè)試。它可以模擬芯片在實(shí)際工作環(huán)境中的各種信號(hào)輸入和輸出,以確保芯片的可靠性和穩(wěn)定性。通過該產(chǎn)品,制造商可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)并修復(fù)芯片設(shè)計(jì)或制造過程中的問題,提高產(chǎn)品的質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)力。二、原理:芯片測(cè)試探針臺(tái)的工作...

    20241-3
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  • 半導(dǎo)體晶圓測(cè)試探針臺(tái)在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中起到什么樣的作用呢?

    在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈中,一個(gè)看似不起眼但實(shí)則至關(guān)重要的設(shè)備——半導(dǎo)體晶圓測(cè)試探針臺(tái),正默默地發(fā)揮著它的作用。它是微觀世界中的“指揮塔”,掌控著芯片質(zhì)量的命脈。一、探針臺(tái)的重要性半導(dǎo)體晶圓測(cè)試探針臺(tái),簡(jiǎn)稱探針臺(tái),是半導(dǎo)體測(cè)試環(huán)節(jié)中的核心設(shè)備。它的主要功能是實(shí)現(xiàn)對(duì)晶圓上芯片的電性能測(cè)試,確保芯片在封裝前達(dá)到預(yù)定的性能指標(biāo)。探針臺(tái)通過精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)和高靈敏度的測(cè)試系統(tǒng),能夠準(zhǔn)確、快速地定位并接觸芯片上的微小電極,從而完成測(cè)試任務(wù)。二、技術(shù)特點(diǎn)與創(chuàng)新探針臺(tái)的設(shè)計(jì)和制造涉及到眾多高精尖技術(shù),...

    202312-28
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  • 開啟科學(xué)探索之門——高低溫真空探針臺(tái)的奇妙世界

    高低溫真空探針臺(tái)是現(xiàn)代科學(xué)研究領(lǐng)域中一項(xiàng)重要的實(shí)驗(yàn)設(shè)備,它為科學(xué)家們打開了通往未知領(lǐng)域的大門。這個(gè)奇妙的裝置結(jié)合了高溫、低溫和真空環(huán)境,提供了理想的條件來研究材料的性質(zhì)、反應(yīng)動(dòng)力學(xué)以及電子器件等諸多領(lǐng)域。首先,讓我們來看看該設(shè)備在材料科學(xué)中的應(yīng)用。通過將樣品置于高溫或低溫條件下,并減少周圍環(huán)境的干擾,科學(xué)家們能夠詳細(xì)地研究物質(zhì)在不同溫度下的行為特性。這對(duì)于探索新材料的性能、研究相變過程以及制備納米結(jié)構(gòu)材料等方面具有重要意義。高低溫真空探針臺(tái)還可以用于測(cè)試材料的熱導(dǎo)率、熱膨脹系...

    202312-19
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  • 射頻探針臺(tái):打開無線通信世界的奇妙之門

    在現(xiàn)代科技快速發(fā)展的時(shí)代,無線通信已經(jīng)成為人們生活和工作中*一部分。而要實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量的無線通信,關(guān)鍵的一環(huán)就是需要精確測(cè)量和分析電磁場(chǎng)的特性。這就需要依靠射頻探針臺(tái)這一神奇的儀器來完成。本文將探討該設(shè)備的原理、應(yīng)用以及對(duì)無線通信領(lǐng)域的重要意義。1.射頻探針臺(tái)的原理與構(gòu)成該設(shè)備是一種用于測(cè)量射頻(RadioFrequency,簡(jiǎn)稱RF)電場(chǎng)和磁場(chǎng)的儀器。它由探針、放大器、采樣器、處理器等部分組成。在測(cè)量過程中,探針被放置在待測(cè)設(shè)備附近,接收并傳遞射頻信號(hào)到放大器進(jìn)行放大。然后,采...

    202312-19
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  • 芯片測(cè)試探針臺(tái):微電子產(chǎn)業(yè)的“質(zhì)檢員”

    在微電子產(chǎn)業(yè)中,芯片測(cè)試是確保產(chǎn)品質(zhì)量和性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。而芯片測(cè)試探針臺(tái),作為這一環(huán)節(jié)的核心設(shè)備,扮演著至關(guān)重要的角色。本文將詳細(xì)介紹該產(chǎn)品的工作原理、應(yīng)用領(lǐng)域以及市場(chǎng)前景。一、工作原理芯片測(cè)試探針臺(tái)是一種高精度的測(cè)試設(shè)備,用于在制造過程中對(duì)芯片進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的測(cè)試。其工作原理是利用探針與芯片引腳接觸,通過電信號(hào)傳輸來檢測(cè)芯片的性能。在測(cè)試過程中,探針臺(tái)會(huì)根據(jù)預(yù)設(shè)的測(cè)試程序,自動(dòng)定位和移動(dòng)探針,以實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片各個(gè)引腳的快速、準(zhǔn)確測(cè)試。二、應(yīng)用領(lǐng)域芯片測(cè)試探針臺(tái)廣泛應(yīng)用于微電子產(chǎn)...

    202312-15
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  • 半導(dǎo)體晶圓測(cè)試探針臺(tái)是檢測(cè)和分析半導(dǎo)體的設(shè)備

    半導(dǎo)體行業(yè)一直是科技領(lǐng)域的重要推動(dòng)力,而其中的晶圓測(cè)試環(huán)節(jié)更是決定產(chǎn)品質(zhì)量和性能的關(guān)鍵步驟。為了滿足不斷增長(zhǎng)的需求和追求更高的生產(chǎn)效率,研發(fā)人員們不斷努力尋求創(chuàng)新技術(shù)。在這個(gè)不斷演進(jìn)的領(lǐng)域中,半導(dǎo)體晶圓測(cè)試探針臺(tái)以其性能和革新的特點(diǎn)站在了行業(yè)的前沿。半導(dǎo)體晶圓測(cè)試探針臺(tái)是一種用于檢測(cè)和分析半導(dǎo)體芯片的關(guān)鍵設(shè)備。它通過精確的探針來與晶圓上的芯片進(jìn)行接觸,并傳輸電信號(hào)進(jìn)行測(cè)試。這款產(chǎn)品采用了先進(jìn)的技術(shù)和材料,旨在提供更準(zhǔn)確、更高效的測(cè)試能力,從而幫助制造商降低成本、提高產(chǎn)能和改善...

    202312-15
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  • 半導(dǎo)體封裝測(cè)試探針臺(tái):半導(dǎo)體封裝測(cè)試的關(guān)鍵支持

    在現(xiàn)代科技領(lǐng)域中,半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展日新月異。而為了確保半導(dǎo)體芯片的質(zhì)量和性能,封裝測(cè)試是一環(huán)。其中,半導(dǎo)體封裝測(cè)試探針臺(tái)作為一種重要的測(cè)試工具,扮演著關(guān)鍵角色。本文將深入介紹半導(dǎo)體封裝測(cè)試探針臺(tái)的定義、功能和應(yīng)用,并探討其在半導(dǎo)體封裝測(cè)試中的重要性。半導(dǎo)體封裝測(cè)試探針臺(tái)是一種專門設(shè)計(jì)和制造的設(shè)備,用于在半導(dǎo)體芯片封裝過程中進(jìn)行電性能測(cè)試和信號(hào)傳輸。它通常由探針卡、控制系統(tǒng)和測(cè)試軟件組成。探針卡包含一系列微小的探針針腳,用于接觸被測(cè)試芯片上的金屬引腳??刂葡到y(tǒng)提供對(duì)探針卡位置和...

    202312-13
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